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J-GLOBAL ID：201503006191260319
品質劣化要因推定装置及び方法
Inventor：
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,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (3)：
伊東 忠重
, 伊東 忠彦
, 石原 隆治
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012190987
Publication number (International publication number)：2014049921
Patent number：5825599
Application date： Aug. 31, 2012
Publication date： Mar. 17, 2014
Claim (excerpt)：
【請求項1】 ネットワークサービス品質劣化時にその要因を推定する品質劣化要因推定装置であって、
ネットワークサービスの品質、トラヒック、サーバ負荷を観測し、観測された観測値を記憶手段に格納する観測変数測定手段と、
前記記憶手段から前記観測変数測定手段で得られた前記観測値が予め定められた品質閾値より劣化した場合、および時系列変化を検出した場合を、品質劣化発生として検出する品質劣化検出手段と、
前記品質劣化検出手段で品質劣化を検出した場合、前記観測変数測定手段で得られた前記観測値のペアに対して互いに回帰分析残差の独立性検定を行い、残差が独立となる回帰が因果関係であると推定し、該因果関係の最も上位に推論された観測値を、品質劣化要因として推定する因果推論手段と、
を有し、
前記因果推論手段は、品質劣化発生時における観測値との相関係数が、予め定められた閾値を上回る観測値群を相関クラスタとして抽出し、当該相関クラスタを対象に因果関係を推定する手段を含むことを特徴とする品質劣化要因推定装置。
IPC (2)：
H04L 12/70 ( 201 3.01)
, H04L 12/24 ( 200 6.01)
H04L 12/70 100 Z
, H04L 12/24
Cited by examiner (2)
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通信状態分析装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2007-060205
Applicant：東日本電信電話株式会社
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管理システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-308458
Applicant：株式会社日立製作所
Article cited by the Patent：
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