遺伝子クラスタ及び遺伝子の探索、同定法およびそのための装置

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：大野聖二 , 田中玲子 , 松任谷優子 , 北野健 , 伊藤奈月 , 梅田慎介
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012535087
Patent number：5780560
Application date： Sep. 22, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】生物ゲノム中の標的遺伝子を含む遺伝子クラスタ及び/または該遺伝子クラスタ中の標的遺伝子を探索する方法であって、生物細胞の生理状態変化を生じる条件とコントロール条件下において生じたゲノム遺伝子の発現量変動比を、ゲノムDNA上に配列する複数の遺伝子により構成される仮想の遺伝子クラスタ毎の発現量変動比として合算することにより、仮想の遺伝子クラスタ毎にスコアリングし、得られたスコアに基づき、上記生理状態変化の原因遺伝子である標的遺伝子を含む遺伝子クラスタ及び/または該遺伝子クラスタ中の標的遺伝子を探索し、仮想の各遺伝子クラスタは、ゲノムDNA上に連続する遺伝子を2個から遺伝子数を一つずつ増やして、想定される遺伝子クラスタに含まれる最大限のゲノム遺伝子数になるまで抽出し、かつ該抽出において、抽出する遺伝子の各個数毎に、直鎖状DNAからなるゲノムの場合には該DNAのいずれかの末端から、環状DNAからなるゲノムの場合には任意の遺伝子を起点として順にゲノムDNA上に配列する遺伝子を一つずつずらしながら抽出された各遺伝子群からなることを特徴とする、方法。

IPC (4)：

C12Q 1/68 ( 200 6.01) , C12N 15/09 ( 200 6.01) , C12M 1/00 ( 200 6.01) , G06F 17/30 ( 200 6.01)

FI (5)：

C12Q 1/68 A , C12N 15/00 A , C12M 1/00 A , C12N 15/00 F , G06F 17/30 170 F

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

Cited by examiner (3)

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