Pat
J-GLOBAL ID:201503011761467501

ラマン分光測定法及びラマン分光測定器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 三好 秀和 ,  高橋 俊一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014067870
Publication number (International publication number):2015190836
Application date: Mar. 28, 2014
Publication date: Nov. 02, 2015
Summary:
【課題】凹凸を有する固体表面に吸着した物質のラマンスペクトルを定性的に測定することができるラマン分光測定法及びラマン分光測定器を提供する。【解決手段】基部1上に平板状の基板2が形成されている。基板2は、弾性体で構成されており、弾力性を有する。凹部3が加圧されると、凹部3に対応した領域Sの基板全体に圧力が加えられ、領域Sに相当する基板が外側に凸状に膨らむことにより、凹凸のある固体表面に吸着された被検体であっても接触させることができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
弾性体からなる基板の表面に貴金属ナノ粒子が形成されたラマン分光基板を用い、固体に吸着した被検体と前記貴金属ナノ粒子が対向するように前記ラマン分光基板を配置し、前記貴金属ナノ粒子が形成された領域全体に所定の圧力を加えて前記ラマン分光基板を前記固体に押し付けながら、又は、前記ラマン分光基板を前記固体に押し付けた後に表面ラマン増強分光測定を行うことを特徴とするラマン分光測定法。
IPC (1):
G01N 21/65
FI (1):
G01N21/65
F-Term (10):
2G043AA01 ,  2G043CA04 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA03 ,  2G043FA06 ,  2G043GA08 ,  2G043GB08 ,  2G043JA01 ,  2G043KA09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page