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J-GLOBAL ID：201503011939712806
光散乱および蛍光の測定によって試料を特徴付ける方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人三枝国際特許事務所
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2015501036
Publication number (International publication number)：2015511024
Application date： Mar. 20, 2013
Publication date： Apr. 13, 2015
Summary：
少なくとも1つの試料を特徴付ける方法であって、a)分析すべき前記試料を、それぞれの光波長(λE1-λE3)を持つ1以上のNの光放射(LE1-LE3)によって照射する工程と、b)各前記光放射について、少なくとも1つの蛍光光強度、および、前記試料から放出される少なくとも1つの弾性散乱光強度を取得する工程と、c)前記試料について、前記蛍光光強度および弾性散乱光強度に基づいてベクトル指標を決定する工程と、d)対応する前記ベクトル指標に基づいて、各試料を特徴付ける少なくとも1つのパラメータ、又は、前記試料に対して行われる方法を決定する工程と、を有する方法。そのような方法を実行するための装置。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
少なくとも1つの試料を特徴付ける方法であって、
a)分析すべき前記試料を、それぞれの光波長(λE1-λE3)を持つ1以上のNの光放射(LE1-LE3)によって照射する工程と、
b)各前記光放射について、少なくとも1つの蛍光光強度、および、前記試料から放出される少なくとも1つの弾性散乱光強度を取得する工程と、
c)前記試料について、前記蛍光光強度および弾性散乱光強度からベクトル指標を決定する工程と、
d)対応する前記ベクトル指標から、各試料を特徴付ける少なくとも1つのパラメータ、又は、前記試料に対して行われる方法を決定する工程と、
を有する方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (12)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA09
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043FA03
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA05
, 2G043NA01
, 2G043NA02
, 2G043NA06
