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J-GLOBAL ID：201503012308357300

電磁界解析システム、電磁界解析方法、電磁界解析プログラム及びこのプログラムを記録した記録媒体

Inventor： 杉坂 純一郎 ,  安井 崇 ,  平山 浩一
Applicant, Patent owner： 国立大学法人北見工業大学
Agent (2)： 吉田 芳春 ,  堀越 真弓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014036539
Publication number (International publication number)：2015162060
Application date： Feb. 27, 2014
Publication date： Sep. 07, 2015
Summary：

【課題】微細な欠陥構造と大規模な多層構造とを併せ持つ対象物への入射波の散乱現象を効率良くシミュレーションすることができ、欠陥構造が非周期的であっても適用可能であり、欠陥構造が広範囲に分布していてもコンピュータのメモリ消費量が増大せず、多層構造が大規模であっても、演算時間及びメモリ消費量が増大しない電磁界解析システムを提供する。【解決手段】欠陥構造及び多層構造を互いに分割する仮想境界を設定する境界設定手段と、設定された仮想境界上の欠陥構造側から見た入射波の反射率に少なくとも基づく仮想境界条件を算出する境界条件算出手段と、欠陥構造を複数の局所的欠陥に分解し、少なくともこれら分解した局所的欠陥の1つを追加して求めた局所的欠陥の周辺の境界及び仮想境界条件から得られる積分方程式を解くことを繰り返す多段階差分界境界要素法により欠陥構造の電磁界を算出する欠陥構造電磁界算出手段とを備える。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

多層構造と、該多層構造の表面側に位置する不規則な欠陥構造とを有する対象物に入射波が印加された際の電磁界を解析する電磁界解析システムであって、 前記欠陥構造及び前記多層構造を互いに分割する仮想境界を設定する境界設定手段と、該設定された仮想境界上の前記欠陥構造側から見た入射波の反射率に少なくとも基づく仮想境界条件を算出する境界条件算出手段と、前記欠陥構造を複数の局所的欠陥に分解し、少なくとも該分解した局所的欠陥の1つを追加して求めた該局所的欠陥の周辺の境界及び前記仮想境界条件から得られる積分方程式を解くことを繰り返す多段階差分界境界要素法により前記欠陥構造の電磁界を算出する欠陥構造電磁界算出手段とを備えていることを特徴とする電磁界解析システム。

IPC (1)：

G06F 17/50

FI (2)：

G06F17/50 612H ,  G06F17/50 666S

F-Term (1)：

5B046JA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 散乱波計算システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-014403   Applicant：国立大学法人宇都宮大学
• 電磁界解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-146006   Applicant：シャープ株式会社