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J-GLOBAL ID:201503012701868686
薬効評価方法および画像処理装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (3):
振角 正一
, 梁瀬 右司
, 大西 一正
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014057594
Publication number (International publication number):2015181348
Application date: Mar. 20, 2014
Publication date: Oct. 22, 2015
Summary:
【課題】薬剤候補の化学物質が細胞集塊にどのような薬効を及ぼすかをより的確に評価することを可能とする技術を提供する。【解決手段】容器に担持された液体内の細胞集塊に投与された化学物質の薬効を評価する薬効評価方法において、細胞集塊を鉛直面と略一致する断面で断層撮像した断層画像を取得する工程(ステップS102)と、断層画像に基づき細胞集塊の特徴量を算出する工程(ステップS105)と、特徴量の算出結果に基づいて、化学物質の薬効を判定する工程とを備える。【選択図】図3
Claim (excerpt):
容器に担持された液体内の細胞集塊に投与された化学物質の薬効を評価する薬効評価方法において、
前記細胞集塊を、鉛直面と略一致する断面で断層撮像した断層画像を取得する工程と、
前記断層画像に基づき、前記細胞集塊の特徴量を算出する工程と、
前記特徴量の算出結果に基づいて、前記化学物質の薬効を判定する工程と
を備える薬効評価方法。
IPC (4):
C12Q 1/02
, C12M 1/34
, G01N 33/15
, G01N 33/50
FI (4):
C12Q1/02
, C12M1/34 A
, G01N33/15 Z
, G01N33/50 Z
F-Term (10):
2G045AA24
, 2G045AA40
, 2G045FA19
, 4B029AA07
, 4B029BB01
, 4B029FA01
, 4B029FA15
, 4B063QA05
, 4B063QQ08
, 4B063QX01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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光干渉断層撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-066212
Applicant:株式会社ニコン
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画像処理装置および画像処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2012-190565
Applicant:キヤノン株式会社
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光干渉断層画像処理方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-206250
Applicant:富士フイルム株式会社, 富士フイルムソフトウエア株式会社
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薬剤が細胞に与える影響を評価するシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-217535
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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Three-Dimensional Holographic Refractive-Index Measurementof Continuously Flowing Cells in a Microfl
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