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J-GLOBAL ID：201503013643618298

塗膜劣化予測方法

Inventor：
和田 環

About 和田 環

, 
冨田 洸

About 冨田 洸


Applicant, Patent owner：
鹿島建設株式会社

About 鹿島建設株式会社


Agent (1)： 小松 高
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014088991
Publication number (International publication number)：2015206751
Application date： Apr. 23, 2014
Publication date： Nov. 19, 2015
Summary：
【課題】任意の地理的条件の場所に塗膜を設置したとき、その塗膜の劣化がどのように進行するかを、促進耐候性試験によって簡便に予測する。【解決手段】ポリオレフィン系標準試料で促進耐候性試験および実環境暴露試験の劣化外力強さ(例えばカルボニルインデックス値)を測定し、有機系塗膜について促進耐候性試験によって劣化外力積算量と塗膜劣化の進行度(例えば光沢保持率)の関係を表す検量線を作成し、実環境で任意の時間暴露した場合の塗膜劣化の進行度を前記検量線によって予測する。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
ポリオレフィン系標準試料を促進耐候性試験に供し、この促進耐候性試験条件の単位時間当たりの劣化外力の強さを求めるプロセス(プロセスa)、 有機系塗膜Pを前記促進耐候性試験に供し、種々の試験経過時間のサンプルについて塗膜劣化特性を測定し、プロセスaで得られたこの促進耐候性試験条件の単位時間当たりの劣化外力の強さに基づき、「塗膜劣化の進行度Y」と「劣化外力積算量X」の関係を表す下記(1)式の検量線を作成するプロセス(プロセスb)、 Y=f(X) ...(1) プロセスaと同種のポリオレフィン系標準試料を実環境空間での暴露試験に供し、その実環境空間の単位期間当たりの劣化外力の強さを求めるプロセス(プロセスc)、 プロセスcで求めた単位期間当たりの劣化外力の強さから、この実環境空間での暴露経過期間tAを劣化外力積算量XtAに換算するプロセス(プロセスd)、 XtAを(1)式の検量線に代入し、この実環境での暴露経過時間tAにおける塗膜Pの劣化進行度予測値Yを求めるプロセス(プロセスe)、 を有する塗膜劣化予測方法。
IPC (3)：
G01N 17/00 ,  G01N 21/356 ,  G01N 21/57
FI (3)：
G01N17/00 ,  G01N21/35 103 ,  G01N21/57
F-Term (25)：
2G050AA04 ,  2G050BA03 ,  2G050BA05 ,  2G050BA09 ,  2G050BA10 ,  2G050CA01 ,  2G050DA01 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EA02 ,  2G050EA03 ,  2G050EB07 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059BB15 ,  2G059CC13 ,  2G059DD20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)
  • “ポリエチレンリファレンス試験片を用いたプラスチックの耐候性に関する暴露環境の求め方”

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