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J-GLOBAL ID:201503020138067771

硫黄の化学状態を調べる方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人 安富国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014028811
Publication number (International publication number):2015152533
Application date: Feb. 18, 2014
Publication date: Aug. 24, 2015
Summary:
【課題】硫黄が不均一に存在する高分子材料等、各種高分子材料中の硫黄の化学状態について、精度の高い情報が得られる評価方法を提供する。【解決手段】硫黄が不均一に存在する硫黄含有高分子材料に、ビームサイズ垂直500μm×水平500μm以下のX線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、硫黄の化学状態を調べる方法に関する。【選択図】なし
Claim (excerpt):
硫黄含有高分子材料に、ビームサイズ垂直500μm×水平500μm以下のX線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、硫黄の化学状態を調べる方法。
IPC (1):
G01N 23/06
FI (1):
G01N23/06
F-Term (12):
2G001AA01 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA09 ,  2G001HA01 ,  2G001KA12 ,  2G001LA05 ,  2G001NA08 ,  2G001SA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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