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J-GLOBAL ID：200903084360665784

X線吸収端を用いた含有率測定方法及び装置

Inventor：
山野 豊次

About 山野 豊次


Applicant, Patent owner：
田中科学機器製作株式会社

About 田中科学機器製作株式会社


Agent (1)： 日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001007750
Publication number (International publication number)：2002214162
Application date： Jan. 16, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 微量元素の含有率を簡易かつ高精度に測定する。【解決手段】 X線を照射するX線管2からヘリウムガスが充填されたハウジング1内に向けて、照射されるX線の光軸上には試料を入れる試料セル3、第1コリメータ4、回転可能な分光結晶5、第2コリメータ6、X線を計測するためのベリリウム窓を有する比例計数管7が配置されている。硫黄原子の吸収端波長を中心として、僅かに長波長の低エネルギ側と短波長の高エネルギ側の一対のX線透過量を検出する。吸収端の一対の前後の波長の差は0.05〜0.5Åであり、これに相当する角度を移動し、硫黄の吸収端の前後の質量吸収係数を検出することにより硫黄の含有率を測定する。
Claim (excerpt)：
特定元素を含む試料にX線を照射し、その透過X線を分光して前記特定元素のX線吸収端の前後の波長におけるX線透過率を検出し、これらの比を求めることにより、前記試料中の前記特定元素の含有率を測定することを特徴とするX線吸収端を用いた含有率測定方法。
F-Term (21)：
2G001AA01 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA01 ,  2G001FA12 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001JA04 ,  2G001JA05 ,  2G001JA11 ,  2G001JA14 ,  2G001KA01 ,  2G001LA04 ,  2G001MA02 ,  2G001NA08 ,  2G001SA01 ,  2G001SA02 ,  2G001SA04 ,  2G001SA12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開昭62-005782
  • 垂直同期分離回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-136449   Applicant：松下電器産業株式会社
  • 同期分離回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-252005   Applicant：ソニー株式会社
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