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J-GLOBAL ID：201503023670465120

画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法

Inventor：
小島 啓嗣

About 小島 啓嗣

, 
石崎 寛美

About 石崎 寛美

, 
焦有 卓

About 焦有 卓


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 篁 悟
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013234160
Publication number (International publication number)：2015094666
Application date： Nov. 12, 2013
Publication date： May. 18, 2015
Summary：
【課題】用紙を読み取った読取画像と検査用の画像との比較により画像形成出力の結果を検査するシステムにおいて、周期的な欠陥の検知処理を高精度に行うこと。【解決手段】マスター画像について、画素毎の濃淡の変化を示す平坦度を算出し、マスター画像と読取画像との差分値を算出した結果である差分画像を取得し、取得された差分画像について、画像上の位置に応じた差分値の変化について周波数解析を行うことにより、読取画像において画像位置に応じた周期的な欠陥が生じていることを判断し、平坦度に基づき、画素毎の濃淡の変化が緩やかな領域を主として周期的な欠陥が生じていることを判断することを特徴とする。【選択図】図8
Claim (excerpt)：
記録媒体上に画像形成出力された画像を読み取った読取画像の検査を行う画像検査装置であって、 画像形成出力された画像が読み取られて生成された読取画像を取得する読取画像取得部と、 画像形成出力するべき画像の情報に基づいて前記読取画像の検査を行うための検査用画像を生成する検査用画像生成部と、 生成された前記検査用画像について、画素毎の濃淡の変化を示す平坦度を算出する平坦度算出部と、 前記検査用画像と前記読取画像との差分値を算出した結果である差分画像を取得する差分画像取得部と、 取得された前記差分画像について、画像上の位置に応じた前記差分値の変化について周波数解析を行うことにより、前記読取画像において画像位置に応じた周期的な欠陥が生じていることを判断する周波数解析部とを含み、 前記周波数解析部は、算出された前記平坦度に基づき、画素毎の濃淡の変化が緩やかな領域を主として前記周期的な欠陥が生じていることを判断することを特徴とする画像検査装置。
IPC (1)：
G01N 21/892
FI (1)：
G01N21/892 A
F-Term (8)：
2G051AA34 ,  2G051AB11 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA16 ,  2G051EC04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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