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J-GLOBAL ID：201503037806010719

顔画像分析方法及び顔画像分析装置

Inventor： 津村 徳道 ,  藤原 伊純 ,  豊田 彩織 ,  小島 伸俊
Applicant, Patent owner： 花王株式会社 ,  国立大学法人 千葉大学
Agent (1)： 速水 進治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014107322
Publication number (International publication number)：2015005281
Application date： May. 23, 2014
Publication date： Jan. 08, 2015
Summary：

【課題】顔画像を用いて、顔全体の評価指標を高精度に分析する。【解決手段】顔画像分析方法は、形状が規格化された顔画像を高周波成分が除去された低周波成分画像及び該高周波成分を含む高周波成分画像に分離する工程と、複数のサンプル顔画像から求められる複数次の基底ベクトルを取得し、上記顔画像に含まれる対象顔画像から分離された低周波成分画像及び高周波成分画像に対する主成分分析により、対象顔画像に関する、当該基底ベクトルの複数の重み係数を取得する工程と、取得された複数の重み係数から、基底ベクトルが持つ基底次数の中の少なくとも一部の分析対象基底次数における複数の分析対象重み係数を選択し、選択された対象顔画像のための複数の分析対象重み係数と、複数のサンプル顔画像に関する複数の分析対象重み係数及び複数の指標値を用いた重回帰分析により算出される顔画像指標式とを用いて、対象顔画像を分析する工程と、を含む。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

形状が規格化された顔画像を高周波成分が除去された低周波成分画像及び該高周波成分のみを含む高周波成分画像に分離する周波数成分分離工程と、 複数のサンプル顔画像から求められる複数次の基底ベクトルを取得し、前記顔画像に含まれる対象顔画像から前記周波数成分分離工程により分離された前記低周波成分画像及び前記高周波成分画像の各々に対する主成分分析により、該対象顔画像に関する、該基底ベクトルの複数の重み係数を取得する対象係数取得工程と、 前記対象係数取得工程により取得された前記複数の重み係数から、前記基底ベクトルが持つ基底次数の中の少なくとも一部の分析対象基底次数における複数の分析対象重み係数を選択し、該選択された前記対象顔画像のための複数の分析対象重み係数と、前記複数のサンプル顔画像に関する複数の分析対象重み係数及び複数の指標値を用いた重回帰分析により算出される顔画像指標式とを用いて、前記対象顔画像を分析する分析工程と、 を含む顔画像分析方法。

IPC (2)：

G06T 1/00 ,  G06T 7/40

FI (2)：

G06T1/00 340A ,  G06T7/40 B

F-Term (23)：

5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CD01 ,  5B057CE06 ,  5B057CE16 ,  5B057CH09 ,  5B057CH11 ,  5B057DA12 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096AA13 ,  5L096FA23 ,  5L096FA26 ,  5L096GA40 ,  5L096GA55 ,  5L096JA22