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J-GLOBAL ID:201503062163856156
応力発光評価装置並びに応力発光評価方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013214181
Publication number (International publication number):2015075477
Application date: Oct. 11, 2013
Publication date: Apr. 20, 2015
Summary:
【課題】ランダムに入力される荷重に対しても、応力発光体の発光強度を確実に評価することのできる応力発光評価装置および応力発光評価方法を提供する。【解決手段】本発明の応力発光評価装置1は、応力発光体に断続的にパルス光を照射するパルス光照射部2と、応力発光体の発光強度を検知する検知部3と、検知部3が検知した発光強度に基づいて、応力発光体に入力された荷重による発光強度を算出する解析部4とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
応力発光体の発光強度を計測し評価する応力発光評価装置であって、
上記応力発光体に断続的にパルス光を照射する照射手段と、
上記応力発光体の発光強度を検知する検知手段と、
上記検知手段の検知結果に基づいて、上記応力発光体に入力された荷重による発光強度を算出する算出手段とを備えることを特徴とする応力発光評価装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (17):
2G043AA03
, 2G043CA07
, 2G043EA06
, 2G043FA01
, 2G043FA03
, 2G043GA07
, 2G043GB08
, 2G043KA08
, 2G043LA01
, 2G043LA03
, 2G061AA01
, 2G061AA02
, 2G061AB05
, 2G061CA20
, 2G061CB20
, 2G061EB07
, 2G061EC02
Patent cited by the Patent:
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