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J-GLOBAL ID:201503083544809607
絶対光強度測定装置及び測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
塩田 伸
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013144818
Publication number (International publication number):2015017875
Application date: Jul. 10, 2013
Publication date: Jan. 29, 2015
Summary:
【課題】測定精度を維持しつつ、常温環境下で簡易かつ短時間で測定できる小型の絶対光強度測定装置及び該装置を用いた絶対光強度測定方法を提供する。【解決手段】絶対光強度測定装置50は、少なくとも、光源から照射される光を受光する受光板2a、及び一端側に前記光を通過させる開口部が形成されるとともに胴部他端側に前記受光板が支持される筒状部材2bを有する受光部1と、前記受光部の外周に前記受光部と離間して配され、前記受光板に照射される前記光の光軸上の位置が開口される第1の熱シールド11と、前記第1の熱シールドに接続され、前記第1の熱シールドを温度制御可能に加熱する第1の熱シールド用ヒータ部13と、を有することを特徴とする。【選択図】図3
Claim (excerpt):
少なくとも、光源から照射される光を受光する受光板、及び一端側に前記光を通過させる開口部が形成されるとともに胴部他端側に前記受光板が支持される筒状部材を有する受光部と、
前記受光部の外周に前記受光部と離間して配され、前記受光板に照射される前記光の光軸上の位置が開口される第1の熱シールドと、
前記第1の熱シールドに接続され、前記第1の熱シールドを温度制御可能に加熱する第1の熱シールド用ヒータ部と、
を有することを特徴とする絶対光強度測定装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (10):
2G065AA04
, 2G065AB09
, 2G065AB20
, 2G065BA12
, 2G065BA40
, 2G065BC03
, 2G065BC04
, 2G065BC05
, 2G065BC16
, 2G065DA05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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レーザ加工装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-128512
Applicant:株式会社クボタ
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特開平4-301728
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断熱光カロリメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-170363
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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等温制御型レーザカロリメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-392460
Applicant:財団法人日本品質保証機構, 独立行政法人産業技術総合研究所
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超電導放射線検出装置およびそれを用いた超電導放射線分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-213265
Applicant:エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
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特開平2-276926
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Cited by examiner (2)
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レーザ加工装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-128512
Applicant:株式会社クボタ
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特開平4-301728
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