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J-GLOBAL ID：201602204074298585   Reference number：16A0284245

ペンタセン単結晶上C₆₀ヘテロエピタキシャル構造の精密決定

Author (13)： NAKAYAMA YASUO (東京理大 理工) ,  MIZUNO YUTA (千葉大 大学院) ,  TSURUTA RYOHEI (東京理大 理工) ,  HOSOKAI TAKUYA (産業技術総合研) ,  KOGANEZAWA TOMOYUKI (JASRI) ,  YAMAMOTO MASAYUKI (千葉大 大学院) ,  HINDERHOFER Alexander (チュービンゲン大) ,  GERLACH Alexander (チュービンゲン大) ,  FRANK Heiko (チュービンゲン大) ,  SCHREIBER Frank (チュービンゲン大) ,  ISHII HISAO (千葉大 大学院) ,  ISHII HISAO (千葉大) ,  UENO NOBUO (千葉大 大学院)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 63rd  Page： ROMBUNNO.22P-W631-3  Publication year： Mar. 03, 2016 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *single crystal ,  *fullerene C60 ,  *heteroepitaxy ,  *decision ,  semiconductor device ,  heterojunction ,  measurement ,  X-Ray Diffraction ,  polyacene ,  *crystal structure determination ,  X-ray reflectometry ,  glancing X-ray diffraction
Semi thesaurus term： *C60 ,  organic semiconductor device ,  X-ray reflectometry ,  grazing-incidence x-ray diffraction

JST classification (2)： Crystal structure of polymers  (BK10000K) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Substance index (1)： Pentacene

Terms in the title (4)： ペンタセン ,  単結晶 ,  C60 ,  精密