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J-GLOBAL ID：201602276617919940   Reference number：16A0601651

Understanding the Relation Between the Performance and Reliability of nand Flash/SCM Hybrid Solid-State Drive

NANDフラッシュ/SCMハイブリッドソリッド・ステート・ドライブの性能と信頼性の間の関係を理解する【Powered by NICT】

Author (5)： Tanakamaru Shuhei (Research and Development Initiative, Chuo University, Tokyo, Japan) ,  Hosaka Shogo (Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan) ,  Johguchi Koh (Research and Development Initiative, Chuo University, Tokyo, Japan) ,  Takishita Hirofumi (Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan) ,  Takeuchi Ken (Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan)
Material： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Trans Very Large Scale Integr Syst)
Volume： 24  Issue： 6  Page： 2208-2219  Publication year： 2016 
JST Material Number： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： A nand flash memory/storage-cl...

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Thesaurus term： latent period ,  *reliability (property) ,  throughput ,  error correcting code ,  code error ,  tolerability ,  *NAND
Semi thesaurus term： ビット誤り率 ,  許容性 ,  *ソリッドステートドライブ , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  General  (NC03161C)

Terms in the title (4)： NANDフラッシュ ,  SCM ,  ソリッド・ステート・ドライブ ,  理解