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J-GLOBAL ID:201603000989022882

ガラス固化体中の異物の検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 森川 聡 ,  小山 卓志 ,  田中 貞嗣
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014182856
Publication number (International publication number):2016057137
Application date: Sep. 09, 2014
Publication date: Apr. 21, 2016
Summary:
【課題】簡単で迅速なガラス固化体中の異物の検出方法を提供する。【解決手段】 YAG-5ωレーザが光源として用いられるレーザアブレーション法誘導結合プラズマ発光分光分析法(LA法ICP-AES)によるガラス固化体中の異物の検出方法が、当該レーザ光の線状照射により、(a)異物に特有な元素の局所的なICP発光強度又はICP発光強度の変化、若しくは(b)異物に特有な酸化物の局所的な濃度又は濃度変化が測定され、ガラス固化体中に混入又は偏在する異物が検出される工程を含む。【選択図】図1
Claim (excerpt):
YAGレーザ第5高調波光が光源として用いられるレーザアブレーション法誘導結合プラズマ発光分光分析法によるガラス固化体中の異物の検出方法であって、 当該レーザ光の線状照射により、異物に特有な元素の局所的なICP(誘導結合プラズマ)発光強度又はICP発光強度の変化が測定され、ガラス固化体中に混入又は偏在する異物が検出される工程を含む、ガラス固化体中の異物の検出方法
IPC (3):
G01N 21/73 ,  G21F 9/16 ,  G01N 21/63
FI (3):
G01N21/73 ,  G21F9/16 541Z ,  G01N21/63 Z
F-Term (8):
2G043AA01 ,  2G043BA09 ,  2G043CA02 ,  2G043CA05 ,  2G043DA01 ,  2G043EA08 ,  2G043EA10 ,  2G043KA09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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