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J-GLOBAL ID：201603003088040767
接触物体が発生する力を可視化および/または定量化するための表面改質方法およびこれを用いたスクリーニング方法、ならびにこれら方法に用いるキット
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014245641
Publication number (International publication number)：2016042071
Application date： Dec. 04, 2014
Publication date： Mar. 31, 2016
Summary：
【課題】細胞等が発生する力を可視化および/または定量化するための、細胞等を被着あるいは接触させる高分子材料の表面改質方法。【解決手段】高分子材料において、当該材料の表面を改質して弾性率を増大させ、当該改質した高分子材料の表面に物体を被着あるいは接触させ、当該高分子材料の表層に生じるシワを観察することにより、被着あるいは接触させる物体が発生する力を可視化および/または定量化するための表面改質方法であり、高分子材料の表面にマスクを付与して改質する部位を限定し、当該材料表面の変形を大きくする、あるいは前記高分子材料を予め加熱し、その間に、当該材料表面を改質して弾性率を増大させ、材料表面の限界座屈ひずみを下げてシワを発生しやすくする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
高分子材料の表面に物体を被着あるいは接触させ、当該高分子材料の表層に生じるシワを観察することにより、被着あるいは接触させる物体が発生する力を可視化および/または定量化するための表面改質方法であって、当該高分子材料の表面を改質して弾性率を増大させて、前記シワを発生しやすくする表面改質方法。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
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