Pat

J-GLOBAL ID：201603005532465780

可視化装置および可視化方法

Inventor： 原川 信二 ,  土屋 昌弘 ,  堀 卓也
Applicant, Patent owner： 株式会社白寿生科学研究所 ,  国立研究開発法人情報通信研究機構
Agent (2)： 原嶋 成時郎 ,  松永 善蔵
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014145446
Publication number (International publication number)：2016019700
Application date： Jul. 15, 2014
Publication date： Feb. 04, 2016
Summary：

【課題】 空間S中に存在する、肉眼で視認できない対象を検知して、一画面上に表示するための、簡便性、直観性に優れる検知対象の可視化装置および可視化方法を提供する。【解決手段】 検知対象の存在を検知した場合に、所定の色で発光する検知手段2を、空間S内の所定の経路で走査する。走査中に検知手段2が発する光跡を、撮影手段4の長時間露出撮影などの光の軌跡を撮影できるモードを使用して、光学映像に重ねて一画面上に撮影し、当該画像を表示手段5に記録して、発生源6から生成する検知対象の空間S内における分布や強度、方向などを可視化する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

空間中の検知対象の可視化装置であって、 空間中に検知対象の存在や方向・濃度勾配を検知した場合に、所定の色や強度に発光する持ち運び自在な検知手段と、 前記検知手段を、所定の経路で走査させる走査手段と、 前記検知手段の走査中の発光状態を一画像上で撮影する撮影手段と、 前記撮影手段で撮影した画像を記録する表示手段を備える、 ことを特徴とする可視化装置。

IPC (2)：

A61N 1/10 ,  G01R 29/08

FI (2)：

A61N1/10 ,  G01R29/08 Z

F-Term (2)：

4C053EE05 ,  4C053EE14

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特許第4562587号
  
• 携帯型電磁界センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-166278   Applicant：NECトーキン株式会社
• 微粒子の濃度測定方法及び測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-192443   Applicant：国立大学法人山口大学

Cited by examiner (3)

• 特許第4562587号
  
• 携帯型電磁界センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-166278   Applicant：NECトーキン株式会社
• 微粒子の濃度測定方法及び測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-192443   Applicant：国立大学法人山口大学

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 発光ダイオードを用いた音場の可視化測定方法

Cited by examiner (1)

• 発光ダイオードを用いた音場の可視化測定方法