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J-GLOBAL ID：201403011170158250

微粒子の濃度測定方法及び測定装置

Inventor：
進士 正人

About 進士 正人

, 
佐々木 雄紀

About 佐々木 雄紀


Applicant, Patent owner：
国立大学法人山口大学

About 国立大学法人山口大学


Agent (1)： 岡野 卓也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012192443
Publication number (International publication number)：2014048203
Application date： Aug. 31, 2012
Publication date： Mar. 17, 2014
Summary：
【課題】本発明は、周囲環境の影響を受けることがなく、測定精度が安定する微粒子の濃度測定方法及び測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の微粒子の濃度測定方法は、空間に光を照射し、微粒子からの散乱光を動画として取得する工程と、前記動画における異なる時刻の2枚の画像を差分処理した時間差分処理画像を生成する工程と、前記時間差分処理画像を二値化処理し、前記微粒子を白斑とする二値化画像を生成する工程と、前記二値化画像に基づいて微粒子の濃度に関連する特徴量を抽出する工程と、前記抽出した特徴量に基づいて微粒子の濃度を算出する工程と、を備えることを特徴とする。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
空間に光を照射し、微粒子からの散乱光を動画として取得する工程と、 前記動画における異なる時刻の2枚の画像を差分処理した時間差分処理画像を生成する工程と、 前記時間差分処理画像を二値化処理し、前記微粒子を白斑とする二値化画像を生成する工程と、 前記二値化画像に基づいて微粒子の濃度に関連する特徴量を抽出する工程と、 前記抽出した特徴量に基づいて微粒子の濃度を算出する工程と、 を備えることを特徴とする微粒子の濃度測定方法。
IPC (3)：
G01N 15/06 ,  G01N 21/47 ,  G01N 11/06
FI (4)：
G01N15/06 D ,  G01N21/47 Z ,  G01N11/06 Z ,  G01N15/06 C
F-Term (15)：
2G059AA01 ,  2G059BB09 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059FF04 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM12 ,  2G059NN01 ,  2G059NN07 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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