Pat
J-GLOBAL ID：201603012941598489
計装機器監視システム
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
, 江口 昭彦
, 内藤 和彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014197427
Publication number (International publication number)：2016071455
Application date： Sep. 26, 2014
Publication date： May. 09, 2016
Summary：
【課題】計装機器の入出力値の異常を認識しやすい計装機器監視システムを提供する。【解決手段】複数の計装機器1A、1B、1C、1D・・・の実際の入出力値を取得する値取得部301と、複数の計装機器1A、1B、1C、1D・・・のうち監視対象計装機器1A以外の計装機器1B、1C、1D・・・の実際の入出力値に基づいてファジィ回帰分析を行い、監視対象計装機器1Aの入出力値の推測値を推測する推測部302と、監視対象計装機器1Aの実際の入出力値と、監視対象計装機器1Aの入出力値のメンバーシップ値付き推測値と、を時系列で表示可能な表示部400と、を備え、表示部400において、メンバーシップ値毎に推測値の表示の有無を選択可能である計装機器監視システム。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
複数の計装機器の実際の入出力値を取得する値取得部と、
前記複数の計装機器のうち監視対象計装機器以外の計装機器の前記実際の入出力値に基づいてファジィ回帰分析を行い、前記監視対象計装機器の入出力値の推測値を推測する推測部と、
前記監視対象計装機器の実際の入出力値と、前記監視対象計装機器の入出力値のメンバーシップ値付き推測値と、を時系列で表示可能な表示部と、
を備え、
前記表示部において、前記メンバーシップ値毎に前記推測値の表示の有無を選択可能な、
計装機器監視システム。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (12)：
3C223AA01
, 3C223AA21
, 3C223BA03
, 3C223CC02
, 3C223DD03
, 3C223EB01
, 3C223FF04
, 3C223FF05
, 3C223FF22
, 3C223FF31
, 3C223GG01
, 3C223HH03
Cited by examiner (3)
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プラント監視装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-248542
Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立情報制御システム
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プラント監視装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-009647
Applicant：三菱電機株式会社
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設備状態監視方法およびその装置並びに設備状態監視用プログラム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2010-237310
Applicant：株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス
Article cited by the Patent：
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