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J-GLOBAL ID：201603014270333542

材料試験装置

Inventor： 田中 和人 ,  片山 傳生
Applicant, Patent owner： 学校法人同志社
Agent (2)： 山根 広昭 ,  後藤 高志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015225936
Publication number (International publication number)：2016105083
Application date： Nov. 18, 2015
Publication date： Jun. 09, 2016
Summary：

【課題】引張試験を適正に行うことが可能な材料試験装置を提供する。【解決手段】材料試験装置100は、第1保持部10と、第2保持部20と、ヒータ61,62とを備えている。第1保持部10は、試験片5の一端部5aを保持する。第2保持部20は、第1保持部10と対向するように配置され、試験片5の他端部5bを保持する。ヒータ61,62は、熱を照射する照射部61a,62aを備え、照射部61a,62aを第1保持部10と第2保持部20との間の空間に向けて配置されている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試験片の一端部を保持する第1保持部と、 前記第1保持部と対向するように配置され、前記試験片の他端部を保持する第2保持部と、 ヒータと を備え、 前記ヒータは、 熱を照射する照射部を備え、 前記照射部が前記第1保持部と前記第2保持部との間の空間に向くように配置されている、材料試験装置。

IPC (1)：

G01N 3/18

FI (1)：

G01N3/18

F-Term (6)：

2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061AC03 ,  2G061BA18 ,  2G061CA10 ,  2G061DA01