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J-GLOBAL ID:201603017300940731
高周波磁界検出装置
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
平山 一幸
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2012083425
Publication number (International publication number):2013213708
Patent number:5958895
Application date: Mar. 31, 2012
Publication date: Oct. 17, 2013
Claim (excerpt):
【請求項1】 磁気力顕微鏡と、
上記磁気力顕微鏡の測定対象物に第1の高周波信号を印加する手段と、
上記測定対象物に近接して設置されたコイルと、
上記コイルに上記第1の高周波数信号と周波数の異なる第2の高周波信号を印加する手段と、
を有し、
上記測定対象物に、上記第1の高周波信号と、上記第2の高周波数信号と、該第1及び第2の高周波信号の差周波数であるビート信号が印加されることを特徴とする、高周波磁界検出装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-082590
Applicant:株式会社東芝
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高周波微小振動測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-091217
Applicant:関西ティー・エル・オー株式会社
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走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-028576
Applicant:日本電子株式会社
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