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J-GLOBAL ID：201603017300940731

高周波磁界検出装置

Inventor： 遠藤 恭 ,  山口 正洋 ,  島田 寛
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東北大学
Agent (1)： 平山 一幸
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012083425
Publication number (International publication number)：2013213708
Patent number：5958895
Application date： Mar. 31, 2012
Publication date： Oct. 17, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】 磁気力顕微鏡と、 上記磁気力顕微鏡の測定対象物に第1の高周波信号を印加する手段と、 上記測定対象物に近接して設置されたコイルと、 上記コイルに上記第1の高周波数信号と周波数の異なる第2の高周波信号を印加する手段と、 を有し、 上記測定対象物に、上記第1の高周波信号と、上記第2の高周波数信号と、該第1及び第2の高周波信号の差周波数であるビート信号が印加されることを特徴とする、高周波磁界検出装置。

IPC (1)：

G01Q 60/50 ( 201 0.01)

FI (1)：

G01Q 60/50

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-082590   Applicant：株式会社東芝
• 高周波微小振動測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-091217   Applicant：関西ティー・エル・オー株式会社
• 走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-028576   Applicant：日本電子株式会社

Cited by examiner (3)

• 磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-082590   Applicant：株式会社東芝
• 高周波微小振動測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-091217   Applicant：関西ティー・エル・オー株式会社
• 走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-028576   Applicant：日本電子株式会社