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J-GLOBAL ID：201702223067303077   Reference number：17A1139245

温度可変2次元すれすれ入射X線回折を利用した巨大ゼーベック効果を発現する有機熱電材料の薄膜構造解析

Author (10)： ABE RYO (奈良先端科学技術大学院大) ,  JUNG M.-C. (奈良先端科学技術大学院大) ,  KOJIMA HIROTAKA (奈良先端科学技術大学院大) ,  KIKUCHI MAMORU (岩手大 工) ,  WATANABE TAKESHI (JASRI) ,  KOGANEZAWA TOMOYUKI (JASRI) ,  HIROSAWA ICHIRO (JASRI) ,  YOSHIMOTO NORIYUKI (岩手大 工) ,  BENTEN HIROAKI (奈良先端科学技術大学院大) ,  NAKAMURA MASAKAZU (奈良先端科学技術大学院大)
Material： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
Volume： 78th  Page： ROMBUNNO.6a-A504-3  Publication year： Aug. 25, 2017 
JST Material Number： Y0055B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray diffraction ,  thermoelectromotive force ,  *thermoelectric material ,  *structure analysis ,  *synchrotron radiation ,  space ,  *lattice constant ,  *temperature dependence ,  triclinic system ,  van der Waals force ,  *organic semiconductor ,  *semiconductor thin film ,  crystal structure ,  single crystal
Semi thesaurus term： Seebeck effect ,  *glancing X-ray diffraction ,  reciprocal space

JST classification (2)： Thin films of organic compounds  (BK14070L) ,  Crystal structure of heterocyclic compounds  (BK08030Q)

Substance index (1)： Dinaphthothienothiophene

Terms in the title (8)： 可変 ,  2次元 ,  すれすれ入射X線回折 ,  ゼーベック効果 ,  発現 ,  有機熱電材料 ,  薄膜 ,  構造解析