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J-GLOBAL ID：201702224647905452   Reference number：17A1138848

光照射によるH₂Pcの蓄積電荷測定

Author (8)： OGINO AKINARI (兵庫県大 院) ,  TANIMURA TOSHIAKI (兵庫県大 院) ,  SATO SEIICHI (兵庫県大 院) ,  YOKOMATSU TOKUJI (兵庫県大 院) ,  MAENAKA KAZUSUKE (兵庫県大 院) ,  KADOYA TOMOFUMI (兵庫県大 院) ,  YAMADA JUN'ICHI (兵庫県大 院) ,  TAJIMA HIROYUKI (兵庫県大 院)
Material： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
Volume： 78th  Page： ROMBUNNO.5p-PA3-4  Publication year： Aug. 25, 2017 
JST Material Number： Y0055B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *photoirradiation ,  *electric charge ,  *electrical measurement ,  *polymer thin film ,  organic material ,  *organic semiconductor ,  *electrode ,  *interface(surface) ,  *carrier injection ,  macrocyclic compound ,  nitrogen heterocyclic compound ,  bridged compound ,  polynuclear aromatic compound
Semi thesaurus term： 蓄積電荷 ,  electric charge measurement ,  *organic thin film ,  electrode interface ,  charge injection

JST classification (2)： Materials of solid-state devices  (NC03020K) ,  Semiconductor-metal contacts  (BM03084G)

Substance index (1)： Phthalocyanine

Terms in the title (3)： 光照射 ,  蓄積 ,  電荷測定