Art

J-GLOBAL ID：201702245719388004   Reference number：17A1087402

分光計測技術の最近の話題

Author (2)： OZAKI YUKIHIRO (関西学院大) ,  ISHIGAKI MIKA (関西学院大)
Material： Optronics  (オプトロニクス)
Issue： 429  Page： 101-106  Publication year： Sep. 10, 2017 
JST Material Number： Y0019A  ISSN： 0286-9659  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *imaging ,  *spectrophotometry (measurement) ,  *near infrared radiation ,  *Fourier spectroscopy ,  *near infrared spectroscopy ,  *Diagnostic Imaging ,  *surface enhanced Raman scattering spectroscopy ,  *nanotechnology ,  plasma resonance ,  *ultraviolet radiation ,  vacuum ultraviolet radiation ,  ATR spectroscopy ,  esophageal tumor ,  self-organizing feature map ,  high sensitivity ,  Raman spectrum ,  near-infrared imaging ,  TERS ,  deep UV ,  Fourier transform NIR spectroscopy ,  Surface Plasmon Resonance
Semi thesaurus term： spectroscopic imaging ,  FTNIR spectroscopy ,  Imaging, Three-Dimensional ,  SERS spectroscopy ,  SPR ,  far ultraviolet ray

JST classification (1)： Spectroscopy and spectrometers in general  (BD07041Q)

Terms in the title (2)： 分光計測 ,  話題