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J-GLOBAL ID：201702252712406748   Reference number：17A0492947

Characterization of secondary ion emission processes of sub-MeV C₆₀ ion impacts via analysis of statistical distributions of the emitted ion number

放射されたイオン数の統計的分布の分析によるサブMeVのC₆₀イオン衝突の二次イオン放出過程のキャラクタリゼーション

Author (5)： Hirata K. (National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Yamada K. (Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan) ,  Chiba A. (Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan) ,  Narumi K. (Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan) ,  Saitoh Y. (Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
Material： Journal of Chemical Physics  (J Chem Phys)
Volume： 145  Issue： 23  Page： 234311-234311-5  Publication year： Dec. 21, 2016 
JST Material Number： C0275A  ISSN： 0021-9606  CODEN： JCPSA6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *fullerene C60 ,  *organic compound ,  Polymethyl Methacrylate ,  macromolecule ,  secondary ion emission ,  ion collision ,  *heavy ion beam ,  *characterization ,  *heavy ion collision ,  probability distribution ,  ion beam ,  secondary ion mass spectrometry ,  mass spectrometer ,  100-1000keV ,  function (mathematics) ,  pulsed ion beam ,  time of flight mass spectrometer ,  probability distribution function

JST classification (3)： Molecular collisions and interaction in general  (BH07010E) ,  Ion emission  (BM09070V) ,  Physical chemistry in general  (CB01010X)

Terms in the title (10)： 放射 ,  イオン ,  統計的分布 ,  分析 ,  サブ ,  C60 ,  イオン衝突 ,  二次イオン放出 ,  過程 ,  キャラクタリゼーション