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J-GLOBAL ID：201702253447098468   Reference number：17A1138600

薄膜試料のトムソン係数の精密測定法の開発

Author (4)： FUJIKI HIROYUKI (産業技術総合研) ,  AMAGAI YASUTAKA (産業技術総合研) ,  OKAWA KENJIRO (産業技術総合研) ,  HARUMOTO TAKASHI (東京工大)
Material： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
Volume： 78th  Page： ROMBUNNO.5p-A503-12  Publication year： Aug. 25, 2017 
JST Material Number： Y0055B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *thermoelectric material ,  *transport coefficient ,  *alternating current ,  silica glass ,  substrate(plate) ,  *platinum ,  *thermoelectric conversion ,  metallic thin film ,  *absolute measurement ,  reversal
Semi thesaurus term： *Seebeck coefficient ,  *Thomson effect ,  alternating current ,  polarity reversal

JST classification (1)： Thermoelectric devices  (NC03090J)

Terms in the title (5)： 薄膜 ,  試料 ,  係数 ,  精密測定法 ,  開発