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J-GLOBAL ID：201702279721058446   Reference number：17A1904388

「有機薄膜トランジスタ・新規有機半導体材料の開発」 有機電界効果トランジスタにおける電気特性評価技術の現状について

Author (1)： NODA KEI (慶応大)
Material： Molecular Electronics and Bioelectronics  (応用物理学会・有機分子・バイオエレクトロニクス分科会会誌)
Volume： 28  Issue： 4  Page： 242-245  Publication year： Nov. 20, 2017 
JST Material Number： L3415A  ISSN： 2423-8805  CODEN： MOEBFM  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： thin film transistor ,  organic material ,  *FET ,  *carrier mobility ,  voltage ,  resistance ,  *contact resistance ,  *standardization ,  technology
Semi thesaurus term： organic thin-film transistor ,  organic semiconductor materials ,  *organic FET ,  gate voltage ,  threshold voltage ,  channel resistance ,  international standardization ,  *evaluation technology

JST classification (2)： Transistors  (NC03070N) ,  Electric conduction in organic compounds  (BM03045F)

Reference (5)：

• a) C. Reese et al., Appl. Phys. Lett., 105 (2009) 024506; b) E. Bittle et al., Nature Commun., 7 (2016) 10908; c) T. Uemura et al., Adv. Mater., 28 (2016) 151.
• a) S. Luan et al., J. Appl. Phys., 72 (1992) 766; b) 野田啓, 応用物理, 86 (2017) 51.
• a) M. Gruber et al., Org. Electron., 13 (2012) 1887; b) M. Weis et al., Jpn. J. Appl. Phys., 53 (2014) 011601; c) F. Torricelli et al., Appl. Phys. Lett., 104 (2014) 093303.
• a) R. Schroeder et al., Appl. Phys. Lett., 84 (2004) 1004; b) T. Minari et al., Appl. Phys. Lett., 100 (2012) 093303; c) W. Wakatsuki et al., J. Appl. Phys., 110 (2011) 054505; d) K. Noda et al., Jpn. J. Appl. Phys., 52 (2013) 021602.
• a) IEC/IEEE 62860, Test methods for the characterization of organic transistors and materials; b) IEC/IEEE 62866, Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators; c) IEC/TS 62607-5-1 ed1.0, Key control characteristics - Part 5-1: Thin-film organic/nano electronic devices - Carrier transport measurements.

Terms in the title (7)： 有機薄膜トランジスタ ,  有機半導体材料 ,  開発 ,  有機電界効果トランジスタ ,  電気特性 ,  評価 ,  現状