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J-GLOBAL ID：201702280060345189   Reference number：17A0953289

Basic study of fine particle removal using microplasma and its electrostatic effect

マイクロプラズマとその静電効果を利用した微粒子除去に関する基礎検討

Author (5)： SHIMIZU Kazuo (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  ITO Akihiko (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  BLAJAN Marius (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  KRISTOF Jaroslav (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  YONEDA Hitoki (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 56  Issue： 1S  Page： 01AC03.1-01AC03.6  Publication year： Jan. 2017 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *dust collecting equipment ,  *membrane electrode ,  *plasma ,  *fine particle ,  electrification (static charge) ,  force ,  *removal ,  *application of static electricity ,  *micro plasma ,  electrostatic force
Semi thesaurus term： dust separator ,  electrostatic force

JST classification (2)： Dust collection  (XD02100D) ,  Air purification  (PC02060X)

Reference (34)：

• J. H. Byeon, J. Hwang, J. H. Park, K. Y. Yoon, B. J. Ko, S. H. Kang, and J. H. Ji, J. Aerosol Sci. 37, 1618 (2006).
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• R. N. Carlile, S. Geha, J. F. O’Hanlon, and J. C. Stewart, Appl. Phys. Lett. 59, 1167 (1991).
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• K. Tachibana, IEEJ Trans. Electr. Electron. Eng. 1, 145 (2006).

Terms in the title (3)： マイクロプラズマ ,  微粒子除去 ,  基礎