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J-GLOBAL ID：201702284211992243   Reference number：17A1141033

ロックイン発熱解析法による大面積グラフェンシートの局所欠陥評価

Author (8)： NAKAJIMA HIDERO (産業技術総合研) ,  MORIMOTO TAKAHIRO (産業技術総合研) ,  IKUTA YOSHINAO (産業技術総合研) ,  OKIGAWA YUKI (産業技術総合研) ,  YAMADA TAKATOSHI (産業技術総合研) ,  KAWAHARA KENJI (九大 グローバルイノベーションセ) ,  AGO HIROKI (九大 グローバルイノベーションセ) ,  OKAZAKI TOSHIYA (産業技術総合研)
Material： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
Volume： 78th  Page： ROMBUNNO.7p-C16-18  Publication year： Aug. 25, 2017 
JST Material Number： Y0055B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *graphene ,  *chemical vapor deposition ,  single crystal ,  *lattice defect ,  nondestructive inspection ,  *thermal image ,  *heat generation, pyrexia ,  surface structure ,  synchronization
Semi thesaurus term： *graphene sheet ,  *monolayer graphene

JST classification (2)： Experimental techniques of observation of lattice defects  (BK12020U) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D)

Terms in the title (7)： ロックイン ,  発熱 ,  解析法 ,  大面積 ,  グラフェンシート ,  欠陥 ,  評価