Art

J-GLOBAL ID：201702290654837352   Reference number：17A1365499

蓄積電荷測定法による有機半導体/金属界面の電荷注入障壁測定

Author (8)： TAJIMA HIROYUKI (兵県大) ,  KADOYA TOMOFUMI (兵県大) ,  YAMADA JUN'ICHI (兵県大) ,  SATO SEIICHI (兵県大) ,  OTSUKA MASATO (兵県大) ,  OGINO AKINARI (兵県大) ,  YOKOMATSU TOKUSHIGE (兵県大 工) ,  MAENAKA KAZUSUKE (兵県大 工)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 72  Issue： 2  Page： ROMBUNNO.23pE21-2  Publication year： Sep. 25, 2017 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *organic semiconductor ,  carrier injection ,  metal ,  *interface (surface) ,  poly(hexylthiophene) ,  *barrier ,  *solid-solid interface ,  macrocyclic compound ,  nitrogen heterocyclic compound ,  bridged compound ,  polynuclear aromatic compound
Semi thesaurus term： poly(3-hexylthiophene) ,  *電荷注入障壁

JST classification (1)： Electric conduction in semiconductors and insulators in general  (BM03041P)

Substance index (1)： Phthalocyanine

Terms in the title (6)： 蓄積電荷 ,  測定法 ,  有機半導体 ,  界面 ,  電荷注入 ,  障壁