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J-GLOBAL ID：201702295710344924   Reference number：17A1950545

Study of the Ionic Conductivity of AgI Micro-Crystals by Use of Dielectric Loss Method with Wide Frequency Range

広帯域誘電損失測定法を用いたAgI微結晶のイオン伝導度の研究

Author (3)： YAMASHITA SEIJI (富士フイルム 神奈川工場) ,  TAKADA SHUNJI (千葉大 大学院融合科学研究科) ,  KUGE KEN'ICHI (千葉大 大学院融合科学研究科)
Material： 日本写真学会誌  (日本写真学会会誌)
Volume： 80  Issue： 4  Page： 318-324  Publication year： Nov. 25, 2017 
JST Material Number： G0165A  ISSN： 0369-5662  CODEN： NSGKAP  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： wide band ,  measurement ,  *dielectric loss ,  *microcrystal ,  silver iodide ,  fine particle ,  electrical conductivity ,  *ionic conduction ,  photograph ,  silver halide ,  *photosensitive material ,  development (photography) ,  heating ,  activation energy ,  metallic microparticle ,  silver halide photograph ,  heat developing ,  dielectric loss measurement ,  ionic conductivity
Semi thesaurus term： ionic conductivity

JST classification (1)： Photosensitive materials  (ZA03020Q)

Reference (24)：

• 1) J. Van Biesen, J. Appl. Phys., 41, 1910 (1970).
• 2) S. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., 12, 190 (1973).
• 3) 花井哲也, 浅見耕司,膜(Membrane), 12(3), 175(1977).
• 4) H. Z. Zhang, K. Sekine, T. Hanai, and N. Koizumi Colloid & Polymer Sci., 262, 513 (1984).
• 5) 山下清司,大島直人,高田俊二,日本写真学会誌,S. Yamashita, N. Ohshima, S. Takada, J. Soc. Photogr. Sci. Tech. Jpn., 76, 493 (2013).

Terms in the title (6)： 広帯域 ,  誘電損失測定 ,  AgI ,  微結晶 ,  イオン伝導度 ,  研究