Pat
J-GLOBAL ID:201703001515666731
微生物の損傷度定量方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人 英知国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016089343
Publication number (International publication number):2017195822
Application date: Apr. 27, 2016
Publication date: Nov. 02, 2017
Summary:
【課題】雑菌や夾雑物が存在する食品などの検体から標的菌を特定して微生物の損傷度を定量化する。【解決手段】標的菌が存在する検体に対して、設定された度合いの微生物制御処理を施し、その後に培養して、培養時間が異なる前記検体における標的菌の菌数を標的菌遺伝子定量手法によりモニタリングし、培養時間の経時変化によって増殖する標的菌の菌数が対数増殖期に移行するまでの時間を増殖遅延時間として求め、当該増殖遅延時間によって、設定された度合いの微生物制御処理による標的菌の損傷度を定める。【選択図】図1
Claim (excerpt):
標的菌が存在する検体に対して、設定された度合いの微生物制御処理を施し、その後に培養して、培養時間が異なる前記検体における標的菌の菌数を標的菌遺伝子定量手法によりモニタリングし、培養時間の経時変化によって増殖する標的菌の菌数が対数増殖期に移行するまでの時間を増殖遅延時間として求め、当該増殖遅延時間によって、設定された度合いの微生物制御処理による標的菌の損傷度を定めることを特徴とする微生物の損傷度定量方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
4B063QA01
, 4B063QA20
, 4B063QQ05
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QR08
, 4B063QS25
, 4B063QX01
Article cited by the Patent: