Pat
J-GLOBAL ID:201703002755356833
磁気計測装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人筒井国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015086808
Publication number (International publication number):2016205954
Application date: Apr. 21, 2015
Publication date: Dec. 08, 2016
Summary:
【課題】磁気計測装置における小型化を実現する。【解決手段】磁気計測装置は、ダイヤモンド結晶12、マイクロ波源17、光源アレイ/高周波回路チップ11、イメージセンサ14、および信号制御部16を有する。ダイヤモンド結晶12は、複数の窒素-空孔対を有する。マイクロ波源17は、ダイヤモンド結晶12にマイクロ波を照射する。光源アレイ/高周波回路チップ11は、ダイヤモンド結晶12に励起光を照射する。イメージセンサ14は、ダイヤモンド結晶12から発生した蛍光の強度を検出する。信号制御部16は、イメージセンサ14が取り込んだ蛍光像の画像処理および光源アレイ/高周波回路チップ11、マイクロ波源17を動作制御する。光源アレイ/高周波回路チップ11は、ダイヤモンド結晶12の第1の面側に設けられ、イメージセンサ14は、ダイヤモンド結晶12の第1の面に対向する第2の面側に設けられる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
蛍光の強度の変化から磁場の強度を検出する磁気計測装置であって、
複数の窒素-空孔対を有するダイヤモンド結晶と、
前記ダイヤモンド結晶にマイクロ波を照射するマイクロ波部と、
前記ダイヤモンド結晶に励起光を照射する光源部と、
複数の画素によって前記ダイヤモンド結晶から発生した蛍光の強度を検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサが取り込んだ蛍光像を画像処理する信号処理部と、
前記光源部、前記マイクロ波部、および前記信号処理部の動作を制御する制御部と、
を有し、
前記光源部は、前記ダイヤモンド結晶の第1の面側に設けられ、
前記イメージセンサは、前記ダイヤモンド結晶の前記第1の面に対向する第2の面側に設けられる、磁気計測装置。
IPC (4):
G01R 33/12
, G01R 33/24
, G01N 24/12
, G01N 21/64
FI (4):
G01R33/12
, G01N24/00 E
, G01N24/12 510L
, G01N21/64 Z
F-Term (18):
2G017AA01
, 2G017AB07
, 2G017AD69
, 2G017BA05
, 2G043AA01
, 2G043AA03
, 2G043BA10
, 2G043BA16
, 2G043CA07
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043JA02
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA09
, 2G043LA03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
ダイヤモンドセンサ、検出器及び量子装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2014-510741
Applicant:エレメントシックスリミテッド
-
蛍光顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-109527
Applicant:国立大学法人京都大学, 日本電子株式会社
Cited by examiner (2)
-
ダイヤモンドセンサ、検出器及び量子装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2014-510741
Applicant:エレメントシックスリミテッド
-
蛍光顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-109527
Applicant:国立大学法人京都大学, 日本電子株式会社
Return to Previous Page