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J-GLOBAL ID：201703003411927633

検査装置、検査方法及びプログラム

Inventor：
深瀬 貴大

About 深瀬 貴大


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016203478
Publication number (International publication number)：2017090444
Application date： Oct. 17, 2016
Publication date： May. 25, 2017
Summary：
【課題】エッジの近傍領域の検査精度を高めることができる検査装置、検査方法及びプログラムを提供する。【解決手段】印刷物の生成元の元画像を取得し、当該元画像に基づいて、検査基準となるマスター画像を生成するマスター画像生成部と、印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、マスター画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部501と、エッジ領域の近傍領域を抽出する近傍領域抽出部502と、近傍領域を構成する画素の濃度の変化量が所定の範囲内であるか否かを判定する濃度変化量判定部503と、近傍領域を構成する画素の濃度の変化量が所定の範囲内である場合、マスター画像の近傍領域に対応する読取画像の領域である対応領域を構成する画素の濃度の統計量を算出する統計量算出部504と、統計量に基づいて、対応領域における欠陥の有無を判定する第1欠陥判定部505と、を備える。【選択図】図11
Claim (excerpt)：
印刷物の生成元の元画像を取得し、当該元画像に基づいて、検査基準となるマスター画像を生成するマスター画像生成部と、 前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、 前記マスター画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部と、 前記エッジ領域の近傍領域を抽出する近傍領域抽出部と、 前記近傍領域を構成する画素の濃度の変化量が所定の範囲内であるか否かを判定する濃度変化量判定部と、 前記近傍領域を構成する画素の濃度の変化量が前記所定の範囲内である場合、前記マスター画像の前記近傍領域に対応する前記読取画像の領域である対応領域を構成する画素の濃度の統計量を算出する統計量算出部と、 前記統計量に基づいて、前記対応領域における欠陥の有無を判定する第1欠陥判定部と、 を備える検査装置。
IPC (3)：
G01N 21/892 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/40
FI (3)：
G01N21/892 A ,  G06T1/00 310A ,  H04N1/40 Z
F-Term (32)：
2G051AA34 ,  2G051AB11 ,  2G051AC21 ,  2G051CA03 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC05 ,  2G051ED05 ,  2G051ED07 ,  2G051ED08 ,  2G051ED13 ,  5B057AA12 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC23 ,  5B057DC33 ,  5C077LL11 ,  5C077MM00 ,  5C077MP08 ,  5C077PP47 ,  5C077PP54 ,  5C077PP68 ,  5C077PQ20 ,  5C077SS01 ,  5C077TT08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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