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J-GLOBAL ID：201703004379238711

変状部の検出方法及び変状部の検査装置

Inventor：
井上 大輔

About 井上 大輔

, 
上野 隆雄

About 上野 隆雄


Applicant, Patent owner：
東急建設株式会社

About 東急建設株式会社


Agent (1)： 弁護士法人クレオ国際法律特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016105559
Publication number (International publication number)：2017211314
Application date： May. 26, 2016
Publication date： Nov. 30, 2017
Summary：
【課題】構造物の表面に発現された凹状の変状部を迅速かつ高精度で検出することができる変状部の検出方法を提供する。【解決手段】構造物の表面に発現された凹状の変状部である例えばひび割れを検出する変状部の検出方法である。 そして、前記表面を撮影する工程(S1)と、前記撮影によって取得された撮像データから距離画像及び可視画像を生成する工程(S31,S41)と、前記距離画像及び前記可視画像のそれぞれにおいて、ひび割れの検出のための距離候補エリアと可視候補エリアとの設定を行う工程(S32,S42)と、前記距離候補エリアと前記可視候補エリアとを統合して統合エリアを設定する工程(S5)と、前記統合エリアからひび割れを抽出する工程(S6)と、抽出されたひび割れの幅を算出する工程(S7)とを備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
構造物の表面に発現された凹状の変状部を検出する変状部の検出方法であって、 前記表面を撮影する工程と、 前記撮影によって取得された撮像データから距離画像及び可視画像を生成する工程と、 前記距離画像及び前記可視画像のそれぞれにおいて、前記変状部の検出のための距離候補エリアと可視候補エリアとの設定を行う工程と、 前記距離候補エリアと前記可視候補エリアとを統合して統合エリアを設定する工程と、 前記統合エリアから前記変状部を抽出する工程と、 抽出された前記変状部の形状を算出する工程とを備えたことを特徴とする変状部の検出方法。
IPC (3)：
G01N 21/88 ,  G01B 11/02 ,  G06T 7/00
FI (3)：
G01N21/88 Z ,  G01B11/02 H ,  G06T7/00 C
F-Term (51)：
2F065AA06 ,  2F065AA14 ,  2F065AA22 ,  2F065AA49 ,  2F065BB15 ,  2F065CC11 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065DD07 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG07 ,  2F065GG24 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ07 ,  2F065LL28 ,  2F065PP26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ33 ,  2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051AC16 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051ED01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED15 ,  2G051ED22 ,  5L096AA09 ,  5L096BA03 ,  5L096CA04 ,  5L096CA17 ,  5L096FA03 ,  5L096FA08 ,  5L096FA59 ,  5L096FA64 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096HA01 ,  5L096JA16
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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