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J-GLOBAL ID：201703006523459950

キラリティ測定方法及びキラリティ測定装置

Inventor： 大園 拓哉 ,  福田 順一 ,  山本 貴広
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2013161373
Publication number (International publication number)：2015031605
Patent number：6202307
Application date： Aug. 02, 2013
Publication date： Feb. 16, 2015
Claim (excerpt)：

【請求項1】 ガス状試料におけるキラリティの測定方法であって、軸線に沿って分子配向させたネマチック液晶体にジグ-ザグの一対からなる欠陥構造を与え、前記欠陥構造を変形させないように、前記軸線に沿って前記ネマチック液晶体の表面に前記ガス状試料を導いて前記欠陥構造の変化を測定することを特徴とするキラリティ測定方法。

IPC (1)：

G01N 21/21 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 21/21 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特公昭43-004787
  
• キラルガスセンサおよび検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-358766   Applicant：日本電信電話株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• Zigzag line defects and manipulation of colloids in a nematic liquid crystal in microwrinkle grooves