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J-GLOBAL ID:201703007708310134

光学測定器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大井 正彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015187762
Publication number (International publication number):2017062184
Application date: Sep. 25, 2015
Publication date: Mar. 30, 2017
Summary:
【課題】小型化が図られて容易に持ち運ぶことができ、かつ、検出用光以外の光が受光部に入射することを抑制することができて高い精度の測定結果を得ることができる光学測定器を提供する。【解決手段】測定試料が配置される測定部20に光源24からの測定用光を入射させる、直線状に伸びる貫通孔よりなる第1の導光路21Hが内部に形成された第1の導光路形成体21と、測定部20から出射される検出用光を受光部28に導光する、直線状に伸びる貫通孔よりなる第2の導光路26Hが内部に形成された第2の導光路形成体26とを有する光学測定器であって、第2の導光路形成体26が、光吸収性を有する材料より形成されている。【選択図】図7
Claim (excerpt):
測定試料が配置される測定部に光源からの測定用光を入射させる、直線状に伸びる貫通孔よりなる第1の導光路が内部に形成された第1の導光路形成体と、前記測定部から出射される検出用光を受光部に導光する、直線状に伸びる貫通孔よりなる第2の導光路が内部に形成された第2の導光路形成体とを有する光学測定器であって、 前記第2の導光路形成体が、光吸収性を有する材料より形成されていることを特徴とする光学測定器。
IPC (2):
G01N 21/59 ,  G01N 21/01
FI (2):
G01N21/59 G ,  G01N21/01 B
F-Term (11):
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059GG02 ,  2G059KK03 ,  2G059LL04 ,  2G059NN06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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