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J-GLOBAL ID:201703010565619580

参照リーク発生装置およびそれを用いた超微小リーク試験装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 丹羽 匡孝 ,  西山 善章 ,  梅田 明彦
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2014548520
Patent number:6091017
Application date: Nov. 12, 2013
Claim (excerpt):
【請求項1】 測定室の上流側に接続するための参照リーク発生装置であって、 開閉可能な第1バルブを介して試験ガスを導入可能な容積V0の第1室と、開閉可能な第2バルブを介して前記第1室と接続された容積V1の第2室と、前記第1室に接続された圧力計と、前記第2室に接続された真空ポンプと、前記第2室に接続されたオリフィス又は多孔質体とを備え、前記第2バルブを開くことにより前記第1室の試験ガスの容積をV0からV0+V1に膨張させることができるように構成し、前記第2室が前記オリフィス又は多孔質体を介して前記測定室の上流側に接続可能となっていることを特徴とする参照リーク発生装置。
IPC (1):
G01M 3/02 ( 200 6.01)
FI (1):
G01M 3/02 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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