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J-GLOBAL ID：201703012288597835

自己抗体の検出方法、自己免疫疾患の罹患の可能性を試験する方法、自己抗体の検出試薬および自己免疫疾患用の試験試薬

Inventor： 荒瀬 尚 ,  谷村 憲司 ,  金 暉 ,  荒瀬 規子
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (3)： 辻丸 光一郎 ,  中山 ゆみ ,  伊佐治 創
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2014050796
Publication number (International publication number)：WO2015008498
Application date： Jan. 17, 2014
Publication date： Jan. 22, 2015
Summary：

自己免疫疾患の原因となる自己抗体を、優れた精度で検出できる自己抗体の検出方法を提供する。 本発明の自己抗体の検出方法は、主要組織適合遺伝子複合体(MHC)クラスII分子により提示された変性タンパク質を含む抗原試薬と、サンプルとを接触させる接触工程、および、前記サンプルにおける自己抗体と前記抗原試薬における前記変性タンパク質との複合体を検出する検出工程を含むことを特徴とする。そして、この検出方法により、被検体から単離した生体試料について、前記自己抗体と前記変性タンパク質との複合体を検出することで、その検出結果から、前記被検体について、自己免疫疾患の罹患可能性を試験することができる。

Claim (excerpt)：

MHCクラスII分子により提示された変性タンパク質を含む抗原試薬と、サンプルとを接触させる接触工程、および、 前記サンプルにおける自己抗体と前記抗原試薬における前記変性タンパク質との複合体を検出する検出工程を含むことを特徴とする、自己抗体の検出方法。

IPC (2)：

G01N 33/564 ,  G01N 33/53

FI (2)：

G01N33/564 Z ,  G01N33/53 N

F-Term (5)：

4B024AA11 ,  4B024CA04 ,  4B024EA04 ,  4B024GA11 ,  4B024HA11