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J-GLOBAL ID：201703014409280837
高分子組成物の物性評価方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (4)：
奥山 尚一
, 有原 幸一
, 松島 鉄男
, 中村 綾子
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2016519231
Patent number：6220450
Application date： May. 08, 2015
Claim (excerpt)：
【請求項1】基板上に形成された、目的高分子組成物中に、3価のランタノイドイオンを中心金属イオンとして構成される融点が200°C以上の蛍光希土類錯体からなる蛍光プローブが均一に分散された試料薄膜を得る工程と、
測定温度Tにおける前記目的高分子組成物の電気双極子遷移由来の蛍光強度と、前記目的高分子組成物の磁気双極子遷移由来の蛍光強度との強度比RTを得る工程と、
前記強度比RTに対し前記測定温度Tをプロットし、プロット結果に基づいて、高温領域の近似直線と、低温領域の近似直線とを得る工程と、
前記高温領域の近似直線と、前記低温領域の近似直線との交点をガラス転移温度として得る工程と
を含む、高分子組成物のバルクのガラス転移温度測定方法。
IPC (2)：
G01N 21/64 ( 200 6.01)
, G01N 21/78 ( 200 6.01)
G01N 21/64 F
, G01N 21/78 C
Cited by examiner (3)
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特許第5414073号
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希土類金属錯体並びにそれを用いた波長変換材料
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2009-054988
Applicant：国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学, 三菱化学株式会社
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特許第2772116号
Article cited by the Patent：
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