Pat
J-GLOBAL ID：201703015770399799
光波長測定方法および光波長測定装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
新居 広守
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2015505282
Patent number：6056096
Application date： Mar. 10, 2014
Claim (excerpt)：
【請求項1】 入力光の波長を測定する光波長測定方法であって、
前記入力光の波長に対応する複数の位置であって、予め定められた波長の分解能に対応する目盛りを有する主尺の目盛りとは異なる間隔を有する複数の位置に、複数のビームを出力する分散デバイスに前記入力光を入力するステップと、
前記分散デバイスから出力された前記複数のビームの間隔を、前記主尺によって特定される波長の範囲内で前記入力光の波長を測定するための副尺の目盛りとして用いて、前記主尺の目盛りと前記副尺の目盛りとの位置関係に基づいて前記入力光の波長を測定するステップとを含む
光波長測定方法。
IPC (2)：
G01J 9/00 ( 200 6.01)
, G01J 3/18 ( 200 6.01)
Cited by examiner (1)
-
分光器
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-326541
Applicant：株式会社東京インスツルメンツ
Article cited by the Patent：
Return to Previous Page
