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J-GLOBAL ID：201703017024847231

中性子モニター装置及び中性子測定方法

Inventor： 久利 修平 ,  高橋 利治 ,  堀池 寛 ,  帆足 英二 ,  村田 勲 ,  土井 幸子
Applicant, Patent owner： 三菱重工メカトロシステムズ株式会社 ,  国立大学法人大阪大学
Agent (2)： 酒井 宏明 ,  高村 順
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014122912
Publication number (International publication number)：2016003893
Patent number：6214095
Application date： Jun. 13, 2014
Publication date： Jan. 12, 2016
Claim (excerpt)：

【請求項1】 水素含有素材で形成した所定半径の球体部分を含む第一本体、前記球体部分の中心に配置したGaを含む第一試験片、前記球体部分の外側面に設けたCd層、及び前記第一試験片の周囲に設けたB層からなる第一検出器と、 水素含有素材で形成され且つ前記第一検出器の球体部分の半径とは異なる半径の球体部分を含む第二本体、前記球体部分の中心に配置したGaを含む第二試験片、前記球体部分の外側面に設けたB層、及び前記第二試験片の周囲に設けたCd層からなる第二検出器と、 からなることを特徴とする中性子モニター装置。

IPC (1)：

G01T 3/00 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01T 3/00 G