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J-GLOBAL ID：201703018511666885
穀粒成分分析装置および穀粒成分分析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
特許業務法人前田特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012200893
Publication number (International publication number)：2013238579
Patent number：6088770
Application date： Sep. 12, 2012
Publication date： Nov. 28, 2013
Claim (excerpt)：
【請求項1】穀粒中に含まれる特定成分を分光法により粒単位で定量分析する穀粒成分分析装置であって、
分析対象の穀粒に光を照射する発光手段と、
前記光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光のスペクトルを検出するスペクトル検出手段と、
分析対象の穀粒に関して特定波長のスペクトル値と前記特定成分の含量との間の関係を示す検量線を用いて、粒単位で、前記穀粒の像の面積に対して20〜40%程度の面積の略中央部分から検出されたスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量を算出する演算手段とを備えている
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。
IPC (1)：
FI (2)：
G01N 21/27 B
, G01N 21/27 Z
Cited by examiner (5)
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穀粒の評価装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-076518
Applicant：株式会社クボタ
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米粒検査装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-316343
Applicant：松下電工株式会社
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青果物品質判定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2008-149569
Applicant：ヤンマー株式会社
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