Pat
J-GLOBAL ID：201703019814570011

機器診断装置及びシステム及び方法

Inventor：
石田 響子

About 石田 響子

, 
内田 貴之

About 内田 貴之

, 
崎村 茂寿

About 崎村 茂寿

, 
藤城 孝宏

About 藤城 孝宏

, 
新 吉高

About 新 吉高


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015230816
Publication number (International publication number)：2017097712
Application date： Nov. 26, 2015
Publication date： Jun. 01, 2017
Summary：
【課題】 検知した異常に対して機器故障、センサ故障、誤報等の要因を推定すること。【解決手段】 機器診断システム100は、機器に設置されたセンサからセンサ信号データを受信し、正常データとの比較により異常判定を行う異常検知部102と、機器故障データとの比較により既知故障の判定を行う既知故障判定部103と、正常データの種類数および蓄積状況に基づいて正常データ充足度を推定する正常データ充足度推定部108と、機器故障データの種類数および蓄積状況に基づいて機器故障データ充足度を推定する機器故障データ充足度推定部109と、正常データが充足していない場合に誤報可能性を提示し、機器故障データが充足していない場合に未知故障可能性を提示する等の異常検知情報を提供する異常検知情報提供部111と、を有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
機器診断装置であって、 診断対象機器の診断結果データを蓄積する異常診断結果記憶部と、 診断対象機器の異常を検知した場合、診断対象機器から受信したセンサ信号データに基づき、予め定められた機器故障モデルを用いて診断対象機器の異常が既知故障か否かを判定し、既知故障と判定した場合は既知故障可能性マークを診断結果データに含め、既知故障でないと判定した場合はセンサ故障可能性マークを診断結果データに含めて、前記異常診断結果記憶部に記憶する既知故障判定部と、 前記既知故障判定部が既知故障でないと判定した場合、予め記憶された正常データに基づき、正常データが充足しているか否かを推定し、正常データが充足していないと判定した場合、誤報可能性マークを診断結果データに含めて前記異常診断結果記憶部に記憶する正常データ充足度推定部と、 前記既知故障判定部が既知故障でないと判定した場合、予め記憶した機器故障データに基づき、機器故障データが充足度しているか否かを推定し、機器故障データが充足していないと判定した場合、未知故障可能性マークを診断結果データに含めて前記異常診断結果記憶部に記憶する機器故障データ充足度推定部と、 前記異常診断結果記憶部に記憶した診断結果データに基づき、機器故障及びセンサ故障及び誤報及び未知故障のいずれかひとつ又は複数を含む診断対象機器の異常の可能性を示す診断結果情報を作成し、他の装置又は出力装置に診断結果情報を提供する異常検知情報提供部と を備えた機器診断装置。
IPC (2)：
G05B 23/02 ,  G01M 99/00
FI (2)：
G05B23/02 302V ,  G01M99/00 Z
F-Term (29)：
2G024AD01 ,  2G024AD21 ,  2G024AD33 ,  2G024BA12 ,  2G024BA21 ,  2G024BA22 ,  2G024BA27 ,  2G024CA26 ,  2G024CA27 ,  2G024EA02 ,  2G024EA12 ,  2G024EA13 ,  2G024FA01 ,  2G024FA13 ,  3C223BA01 ,  3C223BB17 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223EB01 ,  3C223FF04 ,  3C223FF13 ,  3C223FF16 ,  3C223FF22 ,  3C223FF26 ,  3C223FF35 ,  3C223GG01 ,  3C223HH03 ,  3C223HH08 ,  3C223HH29
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM