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J-GLOBAL ID：201802210126906824   Reference number：18A0973506

A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM

ソフトエラー耐性TCAMにおけるビットフリップ検出法【JST・京大機械翻訳】

Author (3)： Syafalni Infall (ASIC Development Group, Logic Research Company Ltd., Fukuoka, Japan) ,  Sasao Tsutomu (Department of Computer Science, Meiji University, Kawasaki, Japan) ,  Wen Xiaoqing (Department of Creative Information, Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan)
Material： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Trans Comput-Aided Des Integr Circuits Syst)
Volume： 37  Issue： 6  Page： 1185-1196  Publication year： 2018 
JST Material Number： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Ternary content addressable me...

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Thesaurus term： SRAM ,  pretreatment ,  firewall ,  high speed ,  radioactive ray ,  memory (computer) ,  backup ,  *soft error ,  fault tolerance ,  detection method ,  word ,  *Ternary Content Addressable Memory
Semi thesaurus term： パケット分類 ,  高信頼性 ,  航空宇宙 ,  *TCAM , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (5)： ソフトエラー ,  耐性 ,  TCAM ,  ビット ,  検出法