Art

J-GLOBAL ID：201802210340955107   Reference number：18A0190000

Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors

解析と緩和またはIRドロップ誘起スキャンシフト誤差【Powered by NICT】

Author (8)： Holst Stefan (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Schneider Eric (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Kawagoe Koshi (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Kochte Michael A. (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Miyase Kohei (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Wunderlich Hans-Joachim (University of Stuttgart, Stuttgart, Germany) ,  Kajihara Seiji (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan) ,  Wen Xiaoqing (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2017  Issue： ITC  Page： 1-8  Publication year： 2017 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Excessive IR-drop during scan ...

Register(free) or Log In to access     To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=18A0190000&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=W2441A") }}

Thesaurus term： Safety ,  scanning ,  masking ,  *fault detection ,  benchmark circuit ,  test data
Semi thesaurus term： スキャンフリップフロップ ,  クロックスキュー , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (8)： 解析 ,  緩和 ,  Ir ,  ドロップ ,  誘起 ,  スキャン ,  シフト ,  誤差