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J-GLOBAL ID：201802214132164585   Reference number：18A1059353

Spin and valley filter across line defect in silicene

シリセンの線欠陥に亘るスピンと谷のフィルター

Author (7)： WANG Sake (Jinling Inst. of Technol., Nanjing, CHN) ,  REN Chongdan (Zunyi Normal Coll., Zunyi, CHN) ,  LI Yunfang (Linyi Univ., Linyi, CHN) ,  TIAN Hongyu (Linyi Univ., Linyi, CHN) ,  LU Weitao (Linyi Univ., Linyi, CHN) ,  SUN Minglei (Southeast Univ., Nanjing, CHN) ,  SUN Minglei (A*STAR, Singapore)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 11  Issue： 5  Page： 053004.1-053004.5  Publication year： May. 2018 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,  *lattice defect ,  *spin-orbit interaction ,  *electronic structure ,  magnetic field ,  backward scattering ,  filter
Semi thesaurus term： *silicene ,  *line defect ,  perpendicular magnetic field

JST classification (2)： Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N) ,  Magnetic properties of inorganic compounds  (BM06060P)

Reference (46)：

• P. Vogt, P. de Padova, C. Quaresima, J. Avila, E. Frantzeskakis, M. C. Asensio, A. Resta, B. Ealet, and G. Le Lay, Phys. Rev. Lett. 108, 155501 (2012).
• L. Meng, Y. Wang, L. Zhang, S. Du, R. Wu, L. Li, Y. Zhang, G. Li, H. Zhou, W. A. Hofer, and H.-J. Gao, Nano Lett. 13, 685 (2013).
• A. Fleurence, R. Friedlein, T. Ozaki, H. Kawai, Y. Wang, and Y. Yamada-Takamura, Phys. Rev. Lett. 108, 245501 (2012).
• L. C. Lew Yan Voon, in Silicene: Structure, Properties and Applications, ed. M. J. Spencer and T. Morishita (Springer, Cham, 2016) Chap. 1.
• M. Ezawa and G. Le Lay, New J. Phys. 17, 090201 (2015).

Terms in the title (5)： シリセン ,  線欠陥 ,  スピン ,  谷 ,  フィルター