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J-GLOBAL ID：201802216270166070   Reference number：18A0695104

Belle II実験シリコンストリップ崩壊点検出器のためのトリガー頻度調整機能の開発

Author (13)： TANIGAWA HIKARU (東大 理) ,  KONNO TOMOYUKI (北里大 理) ,  HARA KOJI (KEK 素核研) ,  HIGUCHI TAKEO (東大 理) ,  HIGUCHI TAKEO (Kavli IPMU) ,  ITO RYOSUKE (KEK 素核研) ,  NAKAMURA KATSUAKI (KEK 素核研) ,  NAKAO MIKIHIKO (KEK 素核研) ,  ONUKI YOSHIYUKI (東大 理) ,  ONUKI YOSHIYUKI (ICEPP) ,  TSUBOYAMA TOORU (KEK 素核研) ,  USHIRODA YU (KEK 素核研) ,  YAMADA SATORU (KEK 素核研)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 73  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.22aK206-7  Publication year： Mar. 23, 2018 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *experiment ,  *radiation detector ,  *signal ,  *frequency(statistics) ,  *function(performance) ,  accelerator ,  *firmware ,  *computer system(architecture) ,  timing analysis ,  *performance evaluation ,  *control
Semi thesaurus term： *Belle experiment ,  *silicon detector ,  *trigger ,  *occurrence frequency ,  *control function ,  *timing control

JST classification (3)： Radiation detection and detectors  (AD08020J) ,  Control systems  (JC02030K) ,  Electronics for elementary and nuclear physics experiments  (BE01020Q)

Terms in the title (8)： 実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  崩壊 ,  検出器 ,  トリガー ,  頻度 ,  開発