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J-GLOBAL ID：201802218623111850   Reference number：18A0123245

MEASUREMENT OF FINE PARTICLES USING X-RAY IN A GAS-PUFF Z-PINCH

ガスパフZピンチにおけるX線を用いた微粒子の測定

Author (2)： MIYAZAKI T. (Nihon Univ., Tokyo, JPN) ,  TAKASUGI K. (Nihon Univ., Tokyo, JPN)
Material： Research Report. NIFS-PROC Series  (NIFS-PROC (National Institute for Fusion Science))
Issue： 105  Page： 69-72  Publication year： Aug. 28, 2017 
JST Material Number： L0798A  ISSN： 0915-6348  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *shadowgraph ,  *Z pinch ,  plasma injection ,  *fine particle ,  Z pinch device ,  light source ,  tin ,  X-ray detector
Semi thesaurus term： EUV light source ,  *X線シャドウグラフ ,  gas puff

JST classification (2)： Plasma devices  (BJ02082I) ,  X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (4)： ガスパフ ,  Zピンチ ,  X線 ,  微粒子